探針臺
Probe Stations
低維材料
2D Material Transfer Platform
光電測試系統
Optoelectronic test system
光學平臺與光學面包板
Optical platform and breadboard
光波導耦合系統
Optical waveguide coupling system
光源
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OCT 成像系統
OCT Imaging System
光電探測與分析
Beam Measurement and Control
顯微觀察
Microscopic observation
運動控制
Motion Control
教學/科研光路系統
Scientific optical path system
其他設備及軟件
Other equipment and software
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緊湊設計,標配支架,衰減,使用方便;
光斑直徑測量范圍:22μm-22mm;
兼容脈沖和連續激光測量;
波長范圍:190-1350nm(可選);
適用于全固態激光、光纖激光以及半導體激光等光源測量;
波長范圍:350-2100nm(可選);
光斑直徑測量范圍:50μm-15mm(可選);
兼容測量連續以及脈沖激光器;
最大功率測量至1W;
用于測量激光光束的光斑大小、光斑強度分布、橢圓度,實時監測光束形狀以及穩定性等;
測量波段:400~1100nm(可選);
最小可測聚焦光斑直徑:1μm;
主要由傳感器、對焦平臺、物鏡、衰減系統組成;
二維和三維空間光束強度分布分析;
波長(190~1700nm)可根據客戶需求定制;
波長范圍:340-1100nm;
檢測精度:≤5%;
操作簡單、快速一鍵式測量;
內置衰減器調節方式:電動轉盤(6 孔位)+手動插槽(2 插槽位);
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