探針臺
Probe Stations
譜量光電 可見光款光束質量分析儀波長范圍190-1350nm(可選),設計緊湊,標配支架,衰減,使用方便。它是基于高速面陣CCD或CMOS感光器件,對所測光斑進行完整接收,逐個像素記錄對應的光強信息,并還原出光斑的整體光強分布樣貌,最終計算光束強度均勻性、光斑大小、光斑指向穩定性、光斑直徑、光強質心位置坐標等測量結果。軟件界面中可顯示二維和三維能量分布情況,以及光斑直徑、發散角和橢圓度等激光光束輪廓特征。
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光斑直徑測量范圍
22μm-22mm(可選) |
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最大功率測量
1W |
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波長范圍
190-1350nm(可選) |
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最大功率密度
50W/cm2(OD3.5衰減) |
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最大能量密度
1J/cm2(OD3.5衰減) |
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工作溫度
0~35℃ |



PLCTS 可見光款光束質量分析儀設計結構緊湊,標配支架,衰減,使用方便;波長測量范圍190-1350nm可選,光斑測量范圍覆蓋22μm-22mm具有9款不同范圍可選。支持激光器最大光功率測量1W,并且兼容脈沖和連續激光測量。光學接口采用標準C-Mount/M58×0.75,可便于選加額外衰減片組裝。專用于激光腔鏡調整、外光路準直、光纖對準耦合分析等。